Meranie parametrov na cievkach a kondenzátoroch II. (protokol 6)

«»

Prípona .docx	Typ meranie	Stiahnuté 1 x
Veľkosť 0,2 MB	Jazyk slovenský	ID projektu 44647
Posledná úprava 05.03.2014	Zobrazené 1 155 x	Autor: unizak
Zdieľaj na Facebooku
Detaily projektu

cena:
6 Kreditov
kvalita:
82,0%
82,0%
Stiahni
Pridaj na porovnanie

Univerzita:Žilinská univerzita v Žiline
Fakulta:Elektrotechnická fakulta
Kategória:Technika » Elektrotechnika
Predmet:Meranie a meracie systémy
Študijný program:Elektrotechnika
Ročník:2. ročník
Formát:MS Office Word (.docx)
Rozsah A4:5 strán

Popis:

Práca vypracovaná podľa požiadaviek cvičiaceho predemtu Meranie a meracie systémy na tému Meranie parametrov na cievkach a kondenzátoroch II. (protokol 6).
Odovzdanie tejto práce je pre denného študenta povinné.

Úlohy merania:

1. Zmerajte pasívne parametre danej cievky rezonančnou metódou na princípe Q- metra. Graficky zostrojte závislosť činiteľa akosti Q a odporu cievky R1 od veľkosti nastavovanej frekvencii.
2. Pomocou číslicového Q- metra (RLC merača) skontrolujte výsledky zmeraných parametrov pri frekvencii 100 a 1 kHz

Kľúčové slová:

parametre na cievkach a kondenzátoroch

cievka

kondenzátor

Meranie a meracie systémy

Obsah:

6-1 Meranie parametrov cievky rezonančnou sériovou metódou
6-2 Meranie parametrov kondenzátora rezonančnou sériovou metódou
6-3 Meranie impedancie mostíkovými metódami

Zdroje:

labák
cvičenie

Zdieľaj na Facebooku

Stiahni

Pridaj projekt

Pridaj projekt a získaj kredity za stiahnutie. S kreditmi možeš sťahovať iné projekty. Je to jednoduché :)

Najčastejšie

Zobraz

Odporúčame

Prihlásenie/login

Žilinská univerzita v Žiline - UNIZA

Meranie parametrov na cievkach a kondenzátoroch II. (protokol 6)

parametre na cievkach a kondenzátoroch

cievka

kondenzátor

Meranie a meracie systémy