Experimentálne metódy materiálového inžinierstva

«»

Prípona .ppt	Typ prednášky	Stiahnuté 5 x
Veľkosť 5,6 MB	Jazyk slovenský	ID projektu 39059
Posledná úprava 18.12.2011	Zobrazené 1 599 x	Autor: zuzana-luboskova.rom
Zdieľaj na Facebooku
Detaily projektu

cena:
11 Kreditov
kvalita:
92,0%
92,0%
Stiahni
Pridaj na porovnanie

Univerzita:Trenčianska univerzita Alexandra Dubčeka v Trenčíne
Fakulta:Fakulta priemyselných technológií
Kategória:Technika » Technológia
Predmet:Materiály a technológie
Študijný program:Materiálová technológia
Ročník:2. ročník
Formát:MS Office PowerPoint (.ppt)
Rozsah A4:45 strán

Popis:

LUPA
- lupa je každá spojná šošovka (alebo sústava šošoviek) s ohniskovou vzdialenosťou f < d, kde d je konvenčná zraková vzdialenosť
- keď lupu umiestnime tesne pred oko, vznikne spolu s okom optická sústava, ktorá má väčšiu optickú mohutnosť ako samotné oko
- keď je predmet s výškou y medzi ohniskom a lupou, vidí naše oko obraz pod väčším zorným uhol t´ ako t obraz je neskutočný, zväčšený a priamy
...

MIKROSKOP
- mikroskop je centrovaná optická sústava zložená z objektívu a okulára. Objektív aj okulár tvoria spojné optické sústavy
- v najjednoduchšom prípade sú to jednoduché spojky (okulár má väčšiu ohniskovú vzdialenosť ako objektív)
- vzdialenosť sa nazýva optický interval mikroskopu pre uhlové zväčšenie mikroskopu platí
...

Kľúčové slová:

experimentálne metódy

materiálové inižinierstvo

lupa

mikroskop

mikroskopia

AFM

Obsah:

Lupa
Mikroskop
Svetelná mikroskopia
Mikroskopia v dopadajúcom svetle
Zobrazenie v svetlom poli
Zobrazenie v šikmom osvetlení
Zobrazenie v polarizovanom svetle
Interferenčná mikroskopia
Fluorescenčný mikroskop
Skenovací tunelový mikroskop (STM)
Schéma rastrovacieho tunelového mikroskopu
Princíp rastrovania
Typy skenerov
Experimentálne výsledky získané použitím STM
Elektrónová mikroskopia
Transmisný elektrónový mikroskop (TEM)
Skenovací elektrónový mikroskop (SEM)
Atómová silová mikroskopia
Kontaktný mód AFM
Príklad vyžitia kontaktného módu AFM
Nekontaktný mód AFM
Príklad vyžitia nekontaktného módu AFM
Prerušovaný kontaktný mód AFM
Príklad vyžitia prerušovaného kontaktného módu AFM
Mikroskopické metódy príbuzné AFM
Príklady manipulácie s jednotlivými atómmi pomocou AFM
AFM NT -206
Nomogram kriviek priblíženie/oddialenie
Experimentálne výsledky získané použitím AFM NT – 206

Zdieľaj na Facebooku

Stiahni

Pridaj projekt

Pridaj projekt a získaj kredity za stiahnutie. S kreditmi možeš sťahovať iné projekty. Je to jednoduché :)

Najčastejšie

Zobraz

Odporúčame

Prihlásenie/login